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昆山易方达精密仪器有限公司
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| X射线检测系统的基本原理 |
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发布者：admin 发布时间：2015-8-13 阅读：578次 【字体：大 中 小】 |
自1930年至今，X射线检测技术已经发展成为最主要的光学检测技术之一。在光学中，X射线与自然光都是电磁波，但X射线的光量子的能量远大于可见光。它可以穿透可见光不能穿透的物体，而且在穿透物体的同时将和物质发生复杂的物理和化学作用，可以使原子发生电离，甚至可以使某些物质产生光化学反应。根据光的原理，如果工件局部区域存在缺陷，它将改变物体对射线的衰减，引起透射射线强度的变化。
x射线的特性 X射线是一种波长很短的电磁波，是一种光子，波长为10~10cm 。X射线检测系统的基本原理为X射线的穿透性不同于其他的化学物质。它的穿透比例与材料的材质，厚度和密度有关。如 当钢丝绳输送带内部发生拉伸或者断裂，有缺陷部位的x射线强度要高于无缺陷部位的X射线强度。由于有缺陷部位吸收能力低，所以被敏感光学仪器接收的X射线强度要高些。
昆山易方达生产的X射线检测仪器，可以实现自动上下料、自动检测、自动OK/NG判定等功能，方便操作者使用与判断。且整机内嵌式超厚铅板防护，绝无辐射泄漏，操作安全可靠。昆山易方达生产的X射线检测仪器可用于SMT、BGA检测、半导体、LED、锂电池（金属壳，聚合物）、铸造（铸铝，铸铁）、塑胶、接插件、3D打印分析、汽车电子、陶瓷产品、医药产品、食品、农业种子筛选等。
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